回(huí)路電阻(zǔ)測試儀的(dí)測(cè)量方法

      回路(lù)電(diàn)阻測(cè)試儀，又(yòu)稱接觸電(diàn)阻(zǔ)測試儀，主(zhǔ)要是(shì)用(yòng)於測試(shì)高(gāo)壓(yā)斷路器動靜(jìng)觸(chù)頭的(dí)接觸電阻。斷(duàn)路器導電(diàn)回路電阻主(zhǔ)要取(qǔ)決於動(dòng)靜觸(chù)頭的接觸電阻。接觸(chù)電阻的(dí)存在，增(zēng)大了導體在通電時的損(sǔn)耗，使接(jiē)觸(chù)處的溫度升(shēng)高，其(qí)值(zhí)的(dí)大小(xiǎo)直接影響正常工(gōng)作(zuò)時(shí)的(dí)載流能力(lì)。在一定(dìng)程度上影響短路電流(liú)的切斷能力(lì)，也(yě)是反(fǎn)映安(ān)裝檢(jiǎn)修工作質(zhì)量(liáng)的重要數(shù)據(jù)。目(mù)前，回路(lù)電(diàn)阻測(cè)試儀的測試(shì)方法主要有三種(zhǒng)，具體操作(zuò)如(rú)下：
 
1，電(diàn)橋(qiáo)法(fǎ)：使用雙臂(bì)電橋進行(háng)斷(duàn)路(lù)器導(dǎo)電(diàn)回路電阻的(dí)測量時(shí)，由(yóu)於(yú)測(cè)量回路通(tōng)過的(dí)是(shì)微(wēi)弱(ruò)的電流(liú)。難以消除(chú)電阻(zǔ)較大的氧化膜(mó)，測(cè)出的(dí)電阻值偏大，而且由於電(diàn)流小。在(zài)其(qí)觸(chù)頭(tóu)接(jiē)觸處(chǔ)難(nán)以形成收縮即無法測出收縮電阻。
 
2，電壓(yā)降(jiàng)法：在(zài)被(bèi)測回(huí)路(lù)中，通以(yǐ)直流(liú)電流時，在回(huí)路(lù)接觸(chù)電阻上(shàng)將產(chǎn)生(shēng)壓降。測(cè)出(chū)通(tōng)過回路的(dí)電流(liú)值和(hé)電(diàn)壓值(zhí)，計算出接(jiē)觸電阻。測試(shì)過程煩(fán)瑣(suǒ)，人(rén)工(gōng)計(jì)算測(cè)量(liáng)結(jié)果(guǒ)，存(cún)在一定(dìng)的誤差。
 
3，微(wēi)歐儀(yí)法（回路電阻測試儀）：原(yuán)理(lǐ)是電壓降原(yuán)理(lǐ)。隻是(shì)測(cè)量，計算等方(fāng)麵(miàn)全(quán)用(yòng)單片機(jī)處理，大大(dà)減少了工作量。